rockss
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楼主  发表于: 2017-07-29 09:38
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  测定原理:X射线荧光剖析法

  测定办法: 能量色散型

  测定目标: 固体、液体、粉末

  测定规模: 11Na~92U(EDX-7000)     6C~92U(EDX-8000) 样品室尺度: 最大300(W)*275(D)*约100(H)mm(但不包含R有些)照耀面积: 1、3、5、10mmΦ:4种主动切换1次滤光片: 5种(含OPEN为6种)主动切换样品调查: CMOS图画设备

  定量剖析: 作业曲线法、共存元素校对FP法、薄膜FP法、布景FP法主机尺度: 460(W)*590(D)*360(H)mm主机分量: 约45KG

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